2019年1月25日

膜厚と母材(素地)の厚さを同時測定
超音波厚さ計 『CMX』をVer.2にモデルチェンジ

超音波検査機器の販売を行うダコタ・ジャパン株式会社(本社:さいたま市、代表取締役:深澤 義知)は、新製品の超音波厚さ計『CMX Ver.2』『CMX DL Ver.2』の2機種の販売を、2月1日に開始します。

超音波厚さ計『CMX/CMX DL』Ver.2の概要

『CMX Ver.2』『CMX DL Ver.2』は、母材(素地)の厚さだけでなく、膜厚も同時に測定することができる画期的な超音波厚さ計です。
外観はそのままに内部のハードウェアを一新し、測定精度・範囲、処理速度を大幅に向上、Version Ⅱとして生まれ変わりました。従来からのBスコープ表示、5段階の感度調整、自動零点調整、温度補正、スキャンモード(高速サンプリング&最小値・最大値ホールド機能)などの機能に加え、0.63mm~1,000mm(1m)の驚異的な測定範囲、TDG(Time-Dependent Gain)テクノロジー、USB給電機能等を追加しました。
『CMX DL Ver.2』には4GBの内部メモリーが搭載されており、測定値を本体に保存することができます。

特徴

  • 膜厚の測定も可能な画期的な超音波厚さ計
  • 0.63mm~1,000mm(鋼換算)の驚異的な測定範囲
  • マルチ・エコーモードによる高精度の厚さ測定
  • 1秒間に25回の画面更新、さらにスキャンモードでは250回/秒の超高速測定
  • 5段階(パルス・エコー)&20段階(エコー・エコー/マルチ・エコー)の感度調整機能
  • 単3電池×3本に加え、USBからの給電にも対応
  • IP65の防塵・防滴性能と2年保証
  • 4GBの大容量データロガー(CMX DL)

用途

  • 鉄・鋼・鋳鉄・アルミニウム・ステンレスなどの金属や、ガラス、プラスチック、セラミック等の厚さ、腐食・減肉検査
  • 塗膜上からの母材(素地)の厚さ測定
  • 膜厚の測定

仕様

測定範囲 パルス・エコー・モード:0.63~1,000mm
パルス・エコー + 膜厚測定モード:母材0.63~500mm、膜厚0.01~2.54mm
パルス・エコー + 温度補正モード:0.63~500mm
エコー・エコー・モード:2.54~50mm
マルチ・エコー・モード:2.54~50mm
膜厚測定モード:0.013~2.54mm
※測定範囲は、材質およびトランスデューサーにより異なります。
測定単位 mm/inch 切替
表示分解能 0.01mm(100mm以上測定時は0.1mm、1000mm以上測定時は1mm分解能)
音速測定範囲 310~18,542m/秒
測定モード P-E:パルス・エコー(厚さ、腐食・減肉測定)
PECT:パルス・エコー + 膜厚 (厚さ、腐食・減肉測定、膜厚測定)
PETP:パルス・エコー + 温度補正 (厚さ、腐食・減肉測定)
E-E:エコー・エコー(塗膜上からの母材測定)
E-EV:マルチ・エコー(塗膜上からの母材測定)
CT:膜厚(膜厚測定)
表示 数値、Bスコープ
探触子 二振動子探触子
周波数 1MHz~10MHz
PRF 250Hz(最大)
画面更新 25回/秒
マテリアルリスト 38件
寸法 64(W)×165(L)×32(D)mm
重量 約383g(電池含む)
PC接続 USB Type-C
動作温度範囲 -10℃~60℃
IP等級 IP65(防塵・防滴)
電源 単3アルカリ電池3本(35時間動作)、USB給電
保証期間 2年(保証対象は本体のみ)
機能 <共通>
カップリングチェック(バーグラフ)、オートパワーオフ、バッテリー残量表示、バックライト、マテリアルリスト(38件)
1点・2点校正、自動零点調整、Vパス補正、アラームモード、差厚測定モード
感度調整(パルス・エコー:5段階、エコー・エコー/マルチ・エコー:20段階)、スキャンモード(最小・最大値ホールド)
トランスデューサー自動認識、セットアップ(64件)、画面キャプチャ
<CMX DL>
データロガー(4GB)
付属品 キャリングケース、カプラント(接触媒質)、取扱説明書、ソフトウェア
PC接続ケーブル、校正証明書、保証書

お見積・お問い合わせ

https://www.dakotajapan.com/contact/

会社概要

会社名 ダコタ・ジャパン株式会社
所在地 <本社>
〒338-0002 埼玉県さいたま市中央区下落合5丁目10番5号
<本製品を管轄している部門>
〒330-0802 埼玉県さいたま市大宮区宮町4丁目150番1号
代表取締役 深澤 義知
事業内容 非破壊検査機器の販売および校正
サイトURL https://www.dakotajapan.com