手順[1]
測定物に接触媒質(カプラント)を少量塗布し、トランスデューサーを垂直に接触させる。
【OK波形】「バーグラフが最大」「等間隔で繰返しエコーが表示」「底面エコーがゲートを超えている」
手順[2]
トランスデューサーを斜めに接触させてしまった場合
【NG波形】「バーグラフが最小」「底面エコーがゲートを超えていない」
手順[3]
トランスデューサーを斜めに接触させてしまった場合
【NG波形】「繰返しエコーが出ていない」
手順[4] ゲート1の調整[1]
【NG測定】ゲート1がノイズを測定しているため、縦の破線がエコーの左側に表示されている。
※実際より厚い値が表示されてしまう。「MEAS」キーを押して【GATE1】を選択する。
手順[5] ゲート1の調整[2]
「▲・▼」キーで数値を入力、ゲート1を右に移動する。
【OK測定】エコーの右側に縦の破線が表示され、正しいエコーを測定している。
手順[6] ゲート2の調整[1]
【NG測定】 ゲート2がノイズを測定しているため、縦の破線がエコーの左側に表示されている。
※薄い厚みが表示されてしまう
「MEAS」キーを押して【GATE2】を選択する。
手順[7] ゲート2の調整[2]
「▲・▼」キーで数値を入力、ゲート2を右に移動する。
【OK測定】エコーの右側に縦の破線が表示され、正しいエコーを測定している。
手順[8] AGC(ゲイン)の調整[1]
底面エコーがゲートを超えていない場合、ゲインを調整する。 または、THR(ゲートの高さ)を調整する。
「MEAS」キーを押して【AGC】を選択する。
手順[9] AGC(ゲイン)の調整[2]
「▲」キーでAGC(ゲイン)の数値を上げる。
手順[10] THR(ゲートの高さ)の調整[1]
底面エコーがゲートを超えていない場合ゲートの高さ(閾値)を調整する。
「MEAS」キーを押して【THR】を選択する。
手順[11] THR(ゲートの高さ)の調整[2]
「▼」キーでTHR(閾値)の数値を下げる。
※正しいエコーを計測しているにもかかわらず、表示される厚みがおかしい場合は校正を行ってください。
手順[12] 1点校正[1]
測定物と同じ材質のサンプルの厚さをマイクロメーター等で計測する。
校正を行う場所にトランスデューサーを接触させ、厚みを表示させる。
「MENU」キーを何度か押し、【CAL】を選択する。
手順[13] 1点校正[2]
①「▲・▼」キーで「ONE POINT」を選択し、②「ENTER」キーを押す。
「
」キーで桁位置を選択・確認する。
手順[14] 1点校正[3]
①「▲・▼」キーでマイクロメーター等で計測した数値を入力し、②「OK」キーを押して確定する。
手順[15] エラー表示が出た場合
厚みを表示していない状態で、音速の校正を行うと、エラー画面が表示される。
「OK」キーもしくは「ESC」キーを押す。元の画面に戻る。再度校正を行う。
手順[16] 画面上にエコー画像が表示されなくなった場合[1]
「MEAS」キーを押して【DELAY】を選択する。
手順[17] 画面上にエコー画像が表示されなくなった場合[2]
①「▲・▼」キーで【DELAY】の値を調整し、②「OK」キーを押して確定する。
※【GATE1】に設定されている値より少し小さい値を入力してください。
