超音波厚さ計 PVX(I-Eモード)の簡易取扱説明書

簡易取扱説明書

簡易取扱説明書 PVX(I-Eモード)

PVX取扱説明書

準備各部名称
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PVX取扱説明書

手順[1]

測定物に接触媒質(カプラント)を少量塗布し、トランスデューサーを垂直に接触させる。
【OK波形】「バーグラフが最大」「等間隔で繰返しエコーが表示」「底面エコーがゲートを超えている」

手順1

手順[2]

トランスデューサーを斜めに接触させてしまった場合
【NG波形】「バーグラフが最小」「底面エコーがゲートを超えていない」

手順2

手順[3]

トランスデューサーを斜めに接触させてしまった場合
【NG波形】「繰返しエコーが出ていない」

手順3

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手順[4] ゲート2の調整[1]

測定物に接触媒質(カプラント)を少量塗布し、トランスデューサーを垂直に接触させる。
【NG測定:1】1つ目のエコーと3つ目のエコーを測定している。※2倍の厚みが表示されてしまう。

手順4

手順[5] ゲート2の調整[2]

【NG測定:2】ゲート1・ゲート2ともに、1つ目のエコーを測定している。※薄い厚みが表示されてしまう。
1つ目のエコーと2つ目のエコーを測定していない場合は、GATE2を調整する。
「MEAS」キーを押して【GATE2】を選択する。

手順5

手順[6] ゲート2の調整[3]

「▲・▼」キーで数値を入力する。
【OK測定】等間隔に表示された1つ目のエコーと2つ目のエコーを測定している。

手順6

手順[7] AGC(ゲイン)の調整[1]

底面エコーがゲートを超えていない場合、ゲインを調整する。または、ゲートの高さ(THR)を調整する。
「MEAS」キーを押して【AGC】を選択する。

手順7

手順[8] AGC(ゲイン)の調整[2]

「▲」キーでAGC(ゲイン)の数値を上げる。

手順8

手順[9]THR(ゲートの高さ)の調整[1]

底面エコーがゲートを超えていない場合ゲートの高さ(閾値)を調整する。「MEAS」キーを押して【THR】を選択する。

手順9

手順[10] THR(ゲートの高さ)の調整[1]

「▼」キーでTHR(閾値)の数値を下げる。

手順10

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※正しいエコーを計測しているにもかかわらず、表示される厚みがおかしい場合は校正を行ってください。

 

手順[11] 1点校正[1]

測定物と同じ材質のサンプルの厚さをノギス等で計測する。
校正を行う場所にトランスデューサーを接触させ、厚みを表示させる。
「MENU」キーを何度か押し、【CAL】を選択する。

手順11

手順[12] 1点校正[2]

①「▲・▼」キーで「ONE POINT」を選択し、②「ENTER」キーを押す。
右左」キーで桁位置を選択・確認する。

手順12

手順[13] 1点校正[3]

①「▲・▼」キーでノギス等で計測した数値を入力し、②「OK」キーを押して確定する。

手順13

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手順[14] エラー表示が出た場合

厚みを表示していない状態で、音速の校正を行うと、エラー画面が表示される。
「OK」キーもしくは「ESC」キーを押す。元の画面に戻る。再度校正を行う。

手順14

手順[15] 画面上にエコー画像が表示されなくなった場合[1]

「MEAS」キーを押して【DELAY】を選択する。

手順15

手順[16] 画面上にエコー画像が表示されなくなった場合[2]

①「▲・▼」キーで【DELAY】の値を調整し、②「OK」キーを押して確定する。
※【GATE1】に設定されている値より少し小さい値を入力してください。

手順16